譜育科技
環(huán)境
不同污染背景下的環(huán)境水體中天然含Ce納米顆粒和工程CeO2納米顆粒的區(qū)分、表征與SP-ICP-Q-TOF-MS數(shù)據(jù)分析

隨著納米材料的應用范圍和市場價值不斷上漲,納米顆粒(nanoparticles,NPs)向環(huán)境的釋放將持續(xù)增加。自然形式的納米顆粒(natural nanoparticles,NNPs)無處不在,但隨著工程納米顆粒(engineered nanoparticles,ENPs)的生產(chǎn)和處理的增加,其對生態(tài)系統(tǒng)和人類健康的影響受到諸多質(zhì)疑。ENPs的開發(fā)是由于類似成分的材料的化學反應活性普遍增強,這意味著特征的生物反應性和潛在的危害。為了評估納米顆粒的風險和監(jiān)管納米技術產(chǎn)品使用,有必要在區(qū)域和全球尺度上了解它們在各種環(huán)境中的賦存狀態(tài)和豐度。


氧化鈰納米顆粒(CeO2 NPs)是最常用的ENPs之一,在催化劑、半導體制造、生物醫(yī)學和農(nóng)業(yè)等領域應用廣泛,它們會通過空氣、土壤、水體進入生物體中,不同生物系統(tǒng)已證明了CeO2 NPs攝入的毒性。人為因素產(chǎn)生的CeO2ENPs在環(huán)境中的任何重要貢獻都會導致稀土元素模式中的Ce異常,稀土元素(REEs)的相對豐度,特別是它們在地球化學過程中的分餾行為,使它們成為礦物風化的強大示蹤劑,也是檢查水中元素來源的一種手段,因此Ce相對于另一種REE的濃度比值是CeO2ENPs發(fā)生的潛在示蹤劑(Phalyvong et al., 2021)。

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▲  圖1. SP-ICP-Q-MS對瞬態(tài)信號(Transient Signal)的信號采集原理示意圖


單顆粒-電感耦合等離子體質(zhì)譜法(SP-ICP-MS)首次面世以來,經(jīng)過二十余年的快速發(fā)展,已成為一種廣泛應用于食品、藥品、環(huán)境等各類領域中納米顆粒的重要表征方法之一。單顆粒形成的離子云,屬于典型的瞬態(tài)信號(Transient Signal),針對瞬態(tài)信號的分析,四極桿質(zhì)譜(SP-ICP-Q-MS)只能提供元素順序掃描的能力,進行單元素分析時獲得最大采集率,顆粒信息捕獲完整。但必須指出的是,當面對多元素掃描時,四極桿質(zhì)譜受制于技術原理,無法用測試時間來彌補顆粒信息丟失(圖1)。針對此問題,飛行時間質(zhì)譜(SP-ICP-Q-TOF-MS)是一個極為有力的補充,TOF質(zhì)量分析器可提供微秒級別的掃描速度,單次push即可提供全譜質(zhì)荷比數(shù)據(jù),不存在“跳峰”行為,使得測試數(shù)據(jù)在質(zhì)荷比的維度上具有顯著的優(yōu)勢。此外,盡管飛行時間占空比損失部分離子,但微秒時間內(nèi)的全譜掃描仍然足以獲得相對完整瞬態(tài)信號信息(圖2)。這種獨特的信號采集能力在多組分納米顆?;蚨鄠€不同組分納米顆粒的區(qū)分鑒別方面具備顯著優(yōu)勢,通過近同時采集的元素組成特征,更加直觀的區(qū)分ENPs和NNPs(Praetorius et al., 2016)并量化它們的濃度。

本文詳細展示了利用譜育科技EXPEC 7910型ICP-Q-TOF-MS進行不同污染背景下的環(huán)境水體中Ce納米顆粒表征的詳細實驗過程與實驗數(shù)據(jù),為納米顆粒風險評估提供理論依據(jù)。


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▲  圖2. 譜育科技EXPEC 7910型ICP-Q-TOF-MS外觀示意圖(A)、離子光學示意圖(B)、SP-ICP-Q-TOF-MS對瞬態(tài)信號(Transient Signal)的信號采集原理示意圖(C)


1、譜育科技-單顆粒分析專用軟件介紹


譜育科技提供專用的單顆粒-ICP-MS(ICP-MSMS、ICP-Q-TOF-MS)分析模塊,具有更快的掃描速度和強大的數(shù)據(jù)處理能力?!皢晤w粒數(shù)據(jù)采集”提供四極桿質(zhì)譜最快10μs的同位素順序掃描或飛行時間質(zhì)譜最快150k全譜掃描能力。譜育科技最新發(fā)布的“單顆粒數(shù)據(jù)分析軟件”,包含分析方法設置(目標同位素(單/多個)設置、駐留時間設置、采集時間設置等)、單顆粒數(shù)據(jù)處理(背景閾值算法、顆粒事件識別的多重算法、顆粒信號整合、傳輸效率計算等)、單顆粒數(shù)據(jù)解析(溶解態(tài)離子濃度解析、顆粒數(shù)量濃度解析、顆粒粒徑分布解析)等多重核心功能。更重要的是,該軟件能夠兼容譜育科技的所有ICP質(zhì)譜產(chǎn)品,包括傳統(tǒng)的單四極桿質(zhì)譜(SUPEC 7000型ICP-MS)、四極桿串聯(lián)質(zhì)譜ICP-MS/MS(EXPEC 7350型)、飛行時間質(zhì)譜ICP-Q-TOF-MS(EXPEC 7910型)。單顆粒數(shù)據(jù)分析軟件主界面示意如圖3所示。

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▲圖3. 譜育科技SP-ICP-MS單顆粒數(shù)據(jù)分析專用軟件主界面示意圖


2、實驗及樣品


樣品采集


將取樣瓶在河水中沖刷3遍,再裝滿環(huán)境水樣品,采集的4個區(qū)域水樣分別為:A. 某開放水庫下游,B. 某自動化設備-城內(nèi)支流,C. 某鍍層科技公司-城內(nèi)支流,D. 某水處理排水公司后,見圖4。

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▲圖4. 環(huán)境水樣品采樣點區(qū)域圖


前處理

樣品前處理目的是進行納米顆粒提取,并需去除大粒徑顆粒和殘渣,防止堵塞霧化器。

  1. 取20 mL環(huán)境水樣裝入50mL離心管中,超聲20 min(每超聲5min手動搖晃);

  2. 將超聲后樣品,放入離心機,離心轉(zhuǎn)速1000 rpm,離心時間5 min(提取粒徑<2 um),

顆粒提取離心條件基于Stokes Law定理計算(Soukup et al., 2008):

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t:離心沉降時間(min)

η:液體的粘度(Pa·s)

R:容器壁垂直于旋轉(zhuǎn)軸時從轉(zhuǎn)軸(即離心頭中心點)到管內(nèi)沉積物頂部的距離(cm)

S:從旋轉(zhuǎn)軸(即離心頭中心點)到懸浮物頂部的距離(cm)

rpm:轉(zhuǎn)速,每分鐘的轉(zhuǎn)數(shù)

D:顆粒粒徑(μm)

sp、sl:顆粒密度和液體介質(zhì)的密度(g/cm3

不同離心機的R和S距離可能不同,應在計算沉降時間之前進行測量。

     3. 離心后樣品,取15 ml上清液,4℃保存待用;

     4. 上機測試前,樣品超聲10 min,每個樣品測3min并進行3次平行測試。


3、儀器運行條件


本實驗儀器采用譜育科技EXPEC 7910型ICP-Q-TOF-MS,樣品引入系統(tǒng)包括2.5mm內(nèi)徑的石英矩管、石英微流霧化器、石英旋流霧室、Ni采樣錐和Ni截取錐,樣品以自吸的方式進行提取,采用60nmAu納米顆粒作為校正參考物質(zhì)。詳細儀器運行條件見表1。


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▲表1. ICP-Q-TOF-MS儀器運行條件


ICP-Q-TOF-MS可以瞬時采集全譜信號并輸出數(shù)據(jù)結(jié)果,為避免不需要或無信號處的同位素數(shù)據(jù)大量輸出,測樣前進行預掃描。首先在全譜掃描模式,通過是否出現(xiàn)質(zhì)譜信號峰快速判斷樣品中主要的元素種類,本實驗樣品以Ba、La、Ce、Pr、Nd、Pb元素為主,接著在單顆粒數(shù)據(jù)采集模式進行掃描,并輸出138Ba、139La、140Ce、141Pr、142Ce、146Nd、209Pb同位素信號結(jié)果。


4、結(jié)果與討論


含Ce納米顆粒的數(shù)量濃度和粒徑


四個取樣點獲得的水樣品中,單顆粒模式采集Ce同位素的實時質(zhì)譜圖中均顯示明顯納米顆粒信號脈沖(圖5)。

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▲圖5. 單顆粒模式分析的實時譜圖(A.某開放水庫下游,B.某自動化設備-城內(nèi)支流,C.某鍍層科技公司-城內(nèi)支流,D.某水處理排水公司后)


通過單顆粒數(shù)據(jù)處理獲得含Ce納米顆粒的數(shù)量濃度和粒徑如下圖所示(圖6和圖7)。其中A水庫和D排水公司所采水樣獲得相對低的顆粒數(shù)量濃度和粒徑,B自動化公司和C鍍層公司附近水樣獲得相對高的顆粒數(shù)量濃度和粒徑結(jié)果。水庫附近人流量少、環(huán)境好,顆粒豐度最低。排水公司后無論是工業(yè)污水或生活用水均經(jīng)過處理,獲得相對低的顆粒豐度水平,而城中公司附近人類活動頻繁,受工業(yè)污染,顆粒豐度和粒徑處于較高水平。

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▲圖6. 環(huán)境水(4個取樣點)中所有含Ce納米顆粒數(shù)量濃度圖片▲圖7. 環(huán)境水(4個取樣點)中所有含Ce納米顆粒粒徑分布圖(CeO2等效球體粒徑)



溶解態(tài)Ce離子濃度與顆粒的相關性


水樣品中溶解態(tài)Ce離子濃度與含Ce納米顆粒的質(zhì)量濃度具有一定正相關性,如圖8所示,隨著納米顆粒質(zhì)量濃度的增大,溶解態(tài)Ce離子的濃度也在增加,這表明水中存在促進納米顆粒溶解的影響因素(如特定的離子強度、pH和有機物質(zhì)等),使顆粒態(tài)Ce/CeO2在水環(huán)境中可能具備降解為離子態(tài)的能力。從排水公司后的河水樣品離子態(tài)Ce的濃度較低,這表明經(jīng)過污水處理系統(tǒng)處理后的水,金屬濃度會明顯降低。

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▲圖8. 環(huán)境水(4個取樣點)中溶解態(tài)Ce離子濃度與顆粒質(zhì)量濃度相關性




含Ce納米顆粒與其他類型納米顆粒的相關性


四個取樣點的水樣中除140Ce外,同時采集的138Ba、139La、141Pr、142Ce、146Nd、208Pb在實時譜圖中均表現(xiàn)明顯的納米顆粒信號脈沖,說明存在多種成分的單納米顆?;蚨喾N不同成分的納米顆粒。其中140Ce和142Ce信號比例與天然豐度相近,進一步確定了Ce信號的真實性。


每個樣品所有采集的信號中均存在4種隨采集時間分布的同位素組成,分別為
1. 僅140Ce、142Ce、156CeO,2. 140Ce、142Ce、156CeO及138Ba、208Pb,3. 140Ce、142Ce、156CeO及139La、141Pr、146Nd,4. 140Ce、142Ce、156CeO及139La、141Pr、146Nd、138Ba、208Pb(圖9)。根據(jù)ICP-Q-TOF-MS檢出的這種元素組成特征,可以區(qū)別天然和工程納米顆粒,ENPs僅以Ce離子信號為特征,而NNPs除了Ce信號外,在單粒子事件中還可同時檢測到稀土元素信號如La、Pr、Nd等。因為自然界稀土元素地球化學行為相似,特征賦存狀態(tài)如獨居石(磷鈰鑭礦,(Ce、La、Nd…)PO4),Ce元素位置由La、Nd、Pr等元素類質(zhì)同相混入,使同一個顆粒中可同時檢出不同元素信號(圖10)。測試結(jié)果中Ba、Pb同位素也被與Ce同時檢測,推測可能是大氣顆粒物沉降并附著于含Ce納米顆粒,當同時無其他稀土元素檢出時仍認為是CeO2-ENPs,而同時還出現(xiàn)La等元素信號峰則認為是NNPs。因此,本實驗結(jié)果顯示環(huán)境水體樣品中存在工程CeO2納米顆粒(圖9的14),也存在天然含Ce納米顆粒(圖9的23)。


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▲ 圖9. 某水庫樣品中CeO2-ENPs和含Ce-NNPs的ICP-TOF-MS質(zhì)譜圖


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▲ 圖10. 工程CeO2納米顆粒和天然含Ce納米顆粒的成分組成簡圖


在四種水樣中測得的含Ce NNPs和CeO2-ENPs占本樣品中所有含Ce顆粒比例各不相同,水庫中CeO2-ENPs豐度最低,某自動化設備公司附近河流中豐度最高,水庫和水處理公司排放的水樣中CeO2-ENPs粒徑相對較低,自動化公司和鍍層公司附近河流的水樣中含粒徑相對更高(圖11)。結(jié)合圖3采樣點分布圖,可判斷地理位置偏僻、工廠數(shù)量少、社會活動不密集的水庫環(huán)境中工業(yè)污染少,而河流周圍有工廠、人類活動頻繁的河流中工業(yè)污染較大(自動化公司附近、鍍層公司附近)。

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▲圖11. 四種樣品中CeO2-ENPs顆粒數(shù)量濃度和粒徑分布



結(jié)論

本實驗通過SP-ICP-Q-TOF-MS快速分析不同污染背景下環(huán)境水體中Ce等納米顆粒,表征了含Ce納米顆粒數(shù)量濃度、等效球體粒徑分布、顆粒質(zhì)量濃度和溶解態(tài)離子濃度信息。同時利用稀土元素分配行為特性,成功區(qū)分工程CeO2納米顆粒和天然含Ce的納米顆粒,證明了這種單顆粒多元素指紋(single-particle multi-element fingerprinting,spMEF)方法在環(huán)境水體相關ENPs濃度下的適用性,及社會活動密集區(qū)域納米顆粒的富集傾向。在某些地區(qū),如城市中心已經(jīng)有大量可能的人為原因,這項工作為納米顆粒實驗調(diào)查奠定基礎,對風險評估和納米產(chǎn)品的監(jiān)管至關重要


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